ПечатьПечать страницы
 

Измерение электрических и оптических характеристик светодиодов и солнечных элементов
 
Одним щелчком мыши Paios выполняет широкий спектр измерений электрических и оптических характеристик органических, перовскитных светодиодов и солнечных элементов, а также устройств на квантовых точках. Ускорьте свои исследования и разработки, путем получения согласованных и точных данных измерений и сравнения результатов в программном обеспечении.
  • Подключите устройство, запустите процедуру, и каждое измерение будет выполняться автоматически;
  • Надежные и малошумящие сигналы. Высокая воспроизводимость;
  • Сравните все ваши результаты в программном обеспечении Characterization Suite. Совместите данные с интегрированными процедурами подстройки и подготовьте свои результаты для окончательной публикации;
  • Создайте воспроизводимую и надежную базу данных устройств и сохраните ее в управляющем программном обеспечении Paios;
  • Подумайте о физике. С остальным Paios справится сам.
 
DC, AC и переходные характеристики OLED и солнечных элементов
 
Photo-CELIV - это мощный метод определения подвижности носителей заряда, рекомбинации и плотности легирования. Также Paios включает в себя OTRACE Импедансная спектроскопия используется для изучения динамики носителей заряда и захвата заряда в большом диапазоне временных масштабов График емкость-напряжение показывает информацию о встроенных барьерах поля и инжекции заряда. Плотность легирования определяется анализом Мотта-Шоттки
 
Переходное фото-ЭДС (TPV) часто используется для определения срока службы носителей заряда в солнечных элементах Переходная электролюминесценция (TEL) позволяет определить подвижность и время жизни фосфоресценции в OLED Переходный фототок (TPC) предоставляет информацию о динамике носителей заряда и захвате заряда
 
Переходная темновая инжекция Dark Injection (DIT) используется для исследования переходного тока в однополярных устройствах
 		 ВАХ (IV и IVL) - стандартные методы определения характеристик солнечных элементов и OLED Извлечение заряда оценивает плотность носителей заряда солнечного элемента при напряжении разомкнутой цепи
Спектроскопия фототока с модуляцией интенсивности (IMPS) исследует перенос заряда путем синусоидального изменения интенсивности света при коротком замыкании Спектроскопия фото-ЭДС с модулированной интенсивностью (IMVS) исследует рекомбинацию заряда путем синусоидального изменения интенсивности света при разомкнутой цепи
 		 Модулированная электролюминесцентная спектроскопия (MELS) исследует перенос заряда в OLED на разных частотах
 

Измерение характеристик OLED и PV структур
 
Paios подходит для определения характеристик как солнечных батарей, так и устройств на органических светодиодах (OLED).
Универсальная комбинированная версия подходит для исследований и разработок как светодиодов, так и фотоэлектрических устройств.
 
  • Версия для солнечных элементов: основное оборудование оснащено подходящей системой светодиодного освещения. Плата с несколькими светодиодами может использоваться для измерения внешней квантовой эффективности (EQE). Для быстрых переходных процессов также доступен наносекундный модуль импульсного генератора;
  • Версия для устройств на основе органических светодиодов (OLED): для исследования OLED включен фотодетектор с автоматическим усилением. Также доступен волоконно-оптический спектрометр для определения спектральной характеристики излучения OLED.

Области исследований
 
Paios можно использовать для определения характеристик различных типов устройств на основе органических полупроводников, перовскитов и квантовых точек:
  • Перовскитовые солнечные элементы;
  • Органические, гибридные и солнечные элементы на квантовых точках;
  • Солнечные батареи CIGS, CdTe, CZTS;
  • Сенсибилизированные красителем солнечные элементы;
  • Твердотельные тонкопленочные батареи;
  • Органические светодиоды (OLED);
  • Перовскитовые светодиоды и QD-светодиоды;
  • Светоизлучающие электрохимические ячейки (LEC);
  • Однополярные устройства;
  • Устройства на основе металлических изоляторов и полупроводников (MIS).


Дополнительные материалы