Системы тестирования и ПО компании FLUXiM

FLUXiM AG представляет швейцарское программное и аппаратное обеспечение для исследований и разработок в области OLED, дисплеев, освещения и солнечных батарей для промышленности и научных кругов по всему миру. Название компании FLUXiM происходит от flux simulation (моделирование потока). Деятельность компании началась в Институте вычислительной физики Цюрихского университета прикладных наук. В 2006 году профессор д-р Бит Рухсталлер основал FLUXiM как дочернюю компанию. На настоящий момент FLUXiM является мировым лидером по разработке ПО для моделирования солнечных элементов и производству систем тестирования солнечных элементов и OLED структур.
Setfos - ПО для моделирования и симуляции OLED и солнечных элементов Setfos - ПО для моделирования и симуляции OLED и солнечных элементов

Setfos. Моделирование оптических и электрических характеристик органических светодиодов и солнечных элементов. Полный пакет программного обеспечения для моделирования излучения, поглощения, рассеяния света и переноса заряда.
Laoss - ПО для проектирования и оптимизации OLED и солнечных элементов большой площади Laoss - ПО для проектирования и оптимизации OLED и солнечных элементов большой площади

Laoss (Large Area Organic Semiconductor Simulation – моделирование органических полупроводников большой площади) является мощным программным пакетом для проектирования, моделирования и оптимизации органических, перовскитных солнечных элементов и светодиодов большой площади (дисплеи, панели освещения, фотоэлектрические матрицы).
Paios - оборудования для измерения характеристик OLED и солнечных элементов Paios - оборудования для измерения характеристик OLED и солнечных элементов

Одним щелчком мыши система Paios выполняет широкий спектр измерений электрических и оптических характеристик органических, перовскитных светодиодов и солнечных элементов, а также устройств на квантовых точках. Ускорьте свои исследования и разработки, путем получения согласованных и точных данных измерений и сравнения результатов в программном обеспечении.
Litos Lite - оборудование для параллельного измерения ВАХ, MPP и параметров стабильности солнечных элементов Litos Lite - оборудование для параллельного измерения ВАХ, MPP и параметров стабильности солнечных элементов

Litos Lite - это платформа для выполнения параллельных измерения отношения плотности тока от напряжения и измерений стабильности органических и перовскитных солнечных элементов. Это инновационное оборудование для определения характеристик способно выполнять измерения JV по 56 параллельным каналам и нагружать солнечные элементы постоянным напряжением или током. Индивидуальное отслеживание точки максимально мощности (MPP) возможно на каждом из устройств, находящихся под нагрузкой. Температуру образцов можно контролировать до максимального значения T = 125 °C.
Litos Lite подходит для нагрузочных испытаний по протоколам ISOS.
Litos - оборудование проведения стресс-тестов для анализа деградации светодиодов и  солнечных элементов Litos - оборудование проведения стресс-тестов для анализа деградации светодиодов и солнечных элементов

Litos  - это современная система измерения срока службы солнечных элементов и светодиодов. Она имеет 16 (или 32) параллельных канала напряжения, распределенных по 4 воздухонепроницаемым климатическим камерам. Каждая камера имеет индивидуальный контроль температуры и освещенности. Широкий спектр стрессовых условий и возможность интеграции Litos с системой Paios  для углубленного анализа деградации делают ее основным выбором для исследователей, изучающих процессы деградации органических, перовскитных солнечных элементов и аналогичных изделий на квантовых точках.
Phelos - гониометр-спектрометр для измерения угловой зависимости электролюминесценции (EL) и фотолюминесценции (PL) Phelos - гониометр-спектрометр для измерения угловой зависимости электролюминесценции (EL) и фотолюминесценции (PL)

Phelos - это спектрометр угловой люминесценции для определения характеристик светоизлучающих устройств и тонких пленок при различных углах излучения и поляризации. В то время как традиционные гониометрические инструменты фокусируются либо на электролюминесценции (EL), либо на фотолюминесценции (PL), Phelos объединяет оба метода измерения в одном компактном настольном приборе. Программное обеспечение Phelos легко интегрируется с мощным программным обеспечением Setfos для анализа данных, извлечения параметров и моделирования устройств.
Техника определения характеристик органических и перовскитных солнечных батарей

Перовскитные фотоэлементы – перспективная технология, которая может лечь в основу не только тонкоплёночных фотовольтаических панелей нового поколения, но и передовых устройств с тандемной архитектурой, в совокупности с кристаллическим кремнием, или CIGS (селенид меди-инди-галия).
Данное руководство описывает различные техники оптоэлектронного определения характеристик, которые можно применять на органических и перовскитных фотоэлементах для получения значимых характеристик устройств, таких как подвижность носителей заряда, плотность заряда, концентрацию ловушек, и т.д. Мы продемонстрируем как применять несколько методик, таких как извлечение светоиндуцированного заряда путём линейного наращивания напряжения, импедансная спектроскопия, переходное фотонапряжение, извлечение заряда, и другие. Помимо этого, мы дадим практические советы для углублённого понимания экспериментальных результатов с использованием моделирования, на основе моделей диффузионно-дрейфового переноса носителей заряда. Мы подробно рассмотрим как неидеальные показатели, такие как барьеры инжекции заряда, ловушки и низкоподвижность проявляются в каждой изучаемой технике определения характеристик. Также мы предоставим несколько результатов экспериментов, полученных при определении характеристик органического плотно-разъёмного солнечного элемента, содержащего в составе PCDTBT:PC70BM. Статья в процессе редактирования