Описание
В attoAFM III в качестве зонда используется кварцевый камертонный резонатор. Микроскоп с таким типом зонда работает в бесконтактном режиме, а для регистрации расстояния от зонда до поверхности образца используется неоптический метод. Игла приклеивается на одну из ног осциллирующего в горизонтальном направлении камертона. Изменение амплитуды колебаний за счет взаимодействия иглы с поверхностью образца регистрируется электрической схемой. Неоптический метод регистрации позволяет использовать этот тип зондов для исследования образцов, чувствительных к воздействию света.
Ключевые особенности и преимущества
- Сверхкомпактная беспрецедентно стабильная АСМ головка
- Высокочувствительный кварцевый камертонный резонатор
- Сверхвысокое разрешение в бесконтактном режиме
- Высокая добротность для измерений с повышенной чувствительностью
- Улучшенное соотношение сигнал/шум благодаря низкотемпературному предусилителю
- Отсутствие необходимости в юстировке оптических элементов
Возможные опции
- Интерферометрические датчики смещения для сканирования образца с обратной связью, обеспечивающие точность позиционирования 1 нм
- Увеличенный диапазон сканирования 125 мкм при температуре 4К
- Система позиционирования образца с резистивными энкодерами, позволяющая задавать абсолютные координаты области сканирования в диапазоне 5 × 5 мм с повторяемостью 1 мкм
- Система визуализации образца, состоящая из оптической схемы, ПЗС-камеры и светодиодной подсветки образца, позволяющая осуществлять визуальный контроль образца и зонда во время сканирования
Просто ссылка
Основные характеристики
|
attoAFM I |
attoAFM III |
| Общие характеристики |
| Тип микроскопа |
Атомно-силовой микроскоп с оптической интерферометрической схемой регистрации отклонения кантилевера |
Атомно-силовой микроскоп с кварцевым камертонным резонатором |
| Совместимость |
Возможность установки коммерчески доступных зондов (опционально) |
Возможность установки зондов Akiyama, NaugaNeedles |
| Режимы работы |
| Режимы сканирования |
Контактный, бесконтактный, постоянной высоты, постоянной силы |
Бесконтактный |
| Стандартные методы |
Атомно-силовая микроскопия, магнитно-силовая микроскопия |
Атомно-силовая микроскопия, электростатическая силовая микроскопия, сканирующая затворная микроскопия |
| Опциональные методы |
Магнитно-силовая микроскопия, кельвин-зондовая силовая микроскопия, силовая микроскопия пьезоотклика, атомно-силовая микроскопия с проводящим зондом |
Возможность установки комбинированной головки атомно-силового и сканирующего туннельного микроскопа |
| Компенсация наклона |
Компенсация наклона плоскости сканирования по двум осям |
| Разрешение |
| Измеренное среднеквадратичное отклонение по Z-координате (режим постоянной силы, температура 4К) |
<0,05 нм для криостатов attoLIQUID, <0,10 нм для криостатов attoDRY. Гарантировано: <0,15 нм |
|
| Плотность шума по Z-координате |
<3 пм/Гц1/2 |
<16 пм/Гц1/2 |
| Разрешение по Z-координате |
57 пм при температуре 4К и диапазоне сканирования 15 мкм |
7,6 пм при температуре 4К и диапазоне сканирования 2 мкм |
| Позиционирование образца |
| Общий диапазон перемещения |
5 × 5 × 5 мм в режиме без обратной связи |
| Шаг |
от 0,05 до 3 мкм при температуре 300К, от 10 до 500 нм при температуре 4К |
| Диапазон сканирования |
50 × 50 × 24 мкм при температуре 300К, 30 × 30 × 15 мкм при температуре 4К |
50 × 50 × 4,2 мкм при температуре 300К, 30 × 30 × 2 мкм при температуре 4К |
| Сканирование в режиме с обратной связью |
Опционально |
| Условия эксплуатации |
| Температурный диапазон |
От 1,5 до 300К. Возможно исполнение для работы при температуре менее 1К |
| Диапазон значений магнитной индукции |
От 0 до 15 Т |
| Среда |
Теплообменный газ (гелий). Возможно вакуумное исполнение (до 10-6 мбар) |
| Криогенная система |
| Корпус микроскопа |
Титановый, диаметр 48 мм |
| Шахта магнита/криостата |
Диаметр 2” (50,8 мм) |
| Совместимые модели криостатов |
attoDRY1000/1100/2100, attoLIQUID1000/2000/3000/5000 |
Для уточнения цены и сроков поставки оборудования связывайтесь с техническими специалистами «Криотрейд инжиниринг».
