телефон/факс
Для заказа криогенных жидкостей
Телефон/факс
Для заказа криогенных жидкостей
Столик WT-500 представляет собой устройство, позволяющее проводить при контролируемой температуре нагрузочные испытания и исследования деформации растяжения материалов с помощью микротестовой DIC системы. Столик идеально подходит для исследования поведения материалов в переходной фазе, исследования возникновения и развития трещин, изломов, изгибаний и т.п. при высоких температурах. WT-500 подходит для изучения полупроводниковых, керамических, полимерных, и биологических материалов, а так же для гибкой электроники. Прибор находит применение и в других отраслях исследований.
| Общие характеристики | ||
| Оптические индикаторы | Типичное значение | Комментарии |
| Продукт/Модель | WT-500 | |
| Диапазон нагрузок | 0-500 Н, 0.02% полного диапазона | |
| Направление | Горизонтальное движение | |
| Максимальное смещение | 40 мм | |
| Скорость смещения | 1-500 мкм/с | Опционально |
| Механическая модель | Растяжение, сжатие, сгибание | |
| Методика нагревания и охлаждения | Охлаждение жидким азотом, нагревание нитью накаливания, полупроводниковое нагревание и охлаждение | |
| Верхняя граница температурного контроля | A.100℃ B. 200℃ C. 400℃ D.600℃ | Опционально |
| Нижняя граница температурного контроля | A.-100℃ B.-120℃ C.-150℃ D.-190℃（опция） | Опционально |
| Точный температурный контроль | ±0.1℃（>-120℃），±0.3℃（<-160℃），разрешение 0.1℃ | |
| Скорость контроля температуры | 0~10℃ / мин | |
| Тип контроля температуры | Режим контроля температуры ：PID；Датчик температуры ：PT100；Материал загрузчика образца: серебро |
|
| Световой путь | Отражённый свет | Доступен пропускающий путь |
| Окна | Съёмное заменяемое окно | Различные материалы для различных длин волн |
| Оконное покрытие | Ø 25 мм | |
| Светопропускающее отверстие | Отсутствует | Доступно |
| Рабочее расстояние линз | 12 мм | |
| Защита окон от обледенения | Продувка и размораживание при отрицательной температуре | |
| Выбор способа наблюдения | Микроскоп, анализ и тестирование ДИК изображений | |
| ПО с функцией анализа ДИК | Поддержка анализа синхронизации, температуры, микроструктуры образца, исследование деформаций, расчет динамических деформаций, обнаружение нелинейных изменений и силы, модуля Юнга и соотношения позиций, механика упруго-пластического разрушения, особенности деформации однородного и неоднородного материала в процессе анализа, характеристика деформации всех видов изотропных и анизотропных материалов | |
| Точность ДИК теста | Поддержка высокоскоростной и низкоскоростной камеры, возможность достижения точности на уровне микрона и нанометра | Опционально |
| Расчет в реальном времени | Онлайн и оффлайн вычисление, и режимы обработки | |
| Совместимость с системой ДИК | Совместимо с однокамерным двухмерным и многокамерным трёхмерным измерением; Совместимость с 32-х и 64-х битными системами. | |
| Малый размер столика для образцов | 35 x 8 мм | Модифицируемо |
| Контроль атмосферы | Герметичная камера, возможно заполнение защитной атмосферой | |
| Охлаждение корпуса | Отсутствует по умолчанию, возможно использование жидкостного цикла для предотвращение перегрева | Возможна вертикальная установка |
|
|
Температурный диапазон | Тип камеры | Оптический канал | Электрический штатив зонда |
| Оптический столик нагревания и охлаждения | От -190 до 1200°C | Воздухонепроницаемая или вакуумная | Пропускание или отражение | Нет |
| Температурный столик с электрическим зондом | От -190 до 1200°C | Воздухонепроницаемая или вакуумная | Пропускание или отражение | Фиксированный штатив |
| Температурная станция с электрическим зондом | От -190 до 1200°C | Воздухонепроницаемая или вакуумная | Пропускание или отражение | Регулируемый штатив |
